【普樂斯】AOI設備-AOI光學自動檢測設備-Wafer AOI系列
品牌：普樂斯
名稱：AOI設備-AOI光學自動檢測設備-Wafer AOI系列
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產(chǎn)品特點
1、支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán)
2、2500萬像素分辨率，AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡加持
3、自動光學對焦、位置矯正、物鏡切換
4、簡易程式制作，減輕操作人員負擔
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4、簡易程式制作，減輕操作人員負擔
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產(chǎn)品參數(shù)
| 型號 | Wafer AOI系列 |
| 測試對象 | 支持4/6/8英寸晶圓及切割環(huán) |
| 載臺 | 微孔陶瓷X/Y/R |
| 相機像素 | 2500萬像素高分辨率 |
| 可檢測平面 | AI深度神經(jīng)網(wǎng)絡加持 |
| 顯微鏡光學系統(tǒng) | 5輪物鏡轉(zhuǎn)換器，配備2X，5X，10X，20X顯微物鏡 |
| 光學模式 | 自動光學對焦，自動位置矯正，自動物鏡切換 |
| 計算效率 | 多服務器分布式計算提速 |
| 控制方式 | 簡易程式制作，減輕操作人員負擔 |
| 圖像系統(tǒng) | 彩色圖像Review系統(tǒng) |
| 擴展升級 | 擴展兼容12英寸晶圓及切割環(huán) |
注：以上參數(shù)僅供參考，本公司可能對相關產(chǎn)品參數(shù)進行調(diào)整，如有變動，恕不再另行通知。若有不明處，歡迎來電詢問。
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工作原理
AOI檢測技術應運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發(fā)展需求，其最大優(yōu)點是節(jié)省人力，降低成本，提高生產(chǎn)效率， 統(tǒng)一檢測標準和排除人為因素干擾，保證了檢測結(jié)果的穩(wěn)定性，可重復性和準確性，及時發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良，確保出貨質(zhì)量。
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應用領域
適用于晶圓后道工序外觀檢測
精準檢測晶圓圖形/蝕刻不良、崩邊/缺邊、劃傷/切割破損、異物、破損、臟污等缺陷
快速反應，專業(yè)配合，精心打造服務生態(tài)鏈
1年質(zhì)保，終身維護，提供配套服務
承諾到達現(xiàn)場的時限：昆山4小時，蘇州8小時，江浙滬24小時，其他區(qū)域48小時
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榮譽資質(zhì)
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